1. Electronic Archive Khmelnytskyi National University ELARKHNU

Перегляд зібрання за групою - Теми тензорезистор

Перейти до: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
або ж введіть декілька перших літер:  
Результати 1 до 4 із 4
Попередній переглядДата випускуНазваАвтор(и)
7.pdf.jpg2019Виявлення причини руйнування скла фотодатчиківСвідерський, Р.В.; Ройзман, В.П.; Sviderskyi, R.; Royzman, V.
19.pdf.jpg2018Забезпечення завадостійкості дротяних малобазних тензорезисторів для вимірювання дійсних значень деформацій виробів електронної технікиРойзман, В.П.; Ковтун, І.І.; Білик, О.К.; Royzman, V.P.; Kovtun, I.I.; Bilyk, O.K.
КОВТУН.pdf.jpg2013Покращення методу електротензометрії для застосування при дослідженнях міцності виробів електронної технікиКовтун, Л.О.; Ройзман, В.П.; Яновицький, О.К.; Kovtun, L.O.; Roizman, V.P.; Janovitsky, O.K.
vott_2013_3_10.pdf.jpg2013Покращення методу електротензометрії для застосування при дослідженнях міцності виробів електронної технікиКовтун, Людмила Олександрівна; Ройзман, Вілен Петрович; Яновицький, Олександр Костянтинович; Kovtun, L.O.; Roizman, V.P.; Janovitsky, O.K.
Результати 1 до 4 із 4